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Workshop Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) y Fuerzas Atómicas (AFM)

Workshop en Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) y Fuerzas Atómicas (AFM) organizado por MONOCOMP-INSTRUMENTACIÓN y HITACHI en colaboración con el Centro Nacional de Investigaciones Metalúrgicas (CENIM-CSIC).

Para más información, ver el Programa.